語系
Egerton, Ray F..
概要
| 作品: | 2 作品在 1 項出版品 1 種語言 | |
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書目資訊
Physical Principles of Electron Microscopy = An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
by:
SpringerLink (Online service); Egerton, Ray F..
(書目-電子資源)