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Rong, Yonghua.

概要

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書目資訊

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM) by: Rong, Yonghua.; SpringerLink (Online service) (書目-電子資源)

主題

Characterization and Evaluation of Materials. Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. Materials Science. Nanostructured materials- Nondestructive testing. Condensed Matter Physics. Electron microscopy.

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