Kelvin probe force microscopy = meas...
Glatzel, Thilo.

 

  • Kelvin probe force microscopy = measuring and compensating electrostatic forces /
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : 單行本
    正題名/作者: Kelvin probe force microscopy/ edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel.
    其他題名: measuring and compensating electrostatic forces /
    其他作者: Sadewasser, Sascha.
    出版者: Berlin, Heidelberg :Springer-Verlag Berlin Heidelberg, : 2012.,
    面頁冊數: xiv, 331 p. :ill., digital ; : 24 cm.;
    Contained By: Springer eBooks
    標題: Atomic force microscopy. -
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22566-6
    ISBN: 9783642225666 (electronic bk.)
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