Atomic scale characterization and fi...
Walkosz, Weronika.

 

  • Atomic scale characterization and first-principles studies of Si3N4 interfaces
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : 單行本
    正題名/作者: Atomic scale characterization and first-principles studies of Si3N4 interfaces/ by Weronika Walkosz.
    作者: Walkosz, Weronika.
    出版者: New York, NY :Springer Science+Business Media, LLC, : 2011.,
    面頁冊數: xiii, 108 p. :ill., digital ; : 24 cm.;
    叢書名: Springer theses
    Contained By: Springer eBooks
    標題: Interfaces (Physical sciences) -
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7817-2
    ISBN: 9781441978172 (electronic bk.)
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