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JTAG測試原理與應用

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孫清華

JTAG測試原理與應用

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Author:	卷佳壽美,
Secondary Intellectual Responsibility:	孫清華,
Place of Publication:	臺北市
Published:	全華;
Year of Publication:	民89[2000]
Edition:	初版
Description:	[221]面圖,表 : 23公分;
Subject:	BSDL (邊界掃描敘述語言) -
Subject:	C (電腦程式語言) -
Subject:	電路測試 -
Notes:	含參考書目及索引
ISBN:	9572129228

JTAG測試原理與應用
卷, 佳壽美

JTAG測試原理與應用 / 卷佳壽美著 ; 孫清華編譯 - 初版. - 臺北市 : 全華, 民89[2000]. - [221]面 ; 圖,表 ; 23公分.
含參考書目及索引.
ISBN 9572129228
BSDL (邊界掃描敘述語言)C (電腦程式語言)電路測試

孫, 清華

JTAG測試原理與應用
LDR:00630cam0 22002171 450C 001 37801
005 20240904214733.0
009 1038729
010 0 $a 9572129228 $b 平裝 $d 新臺幣280元
019 $a 9789572129227
100 $a 20090515d2000 m y0chiy09 e
101 1 $a chi $c jpn
102 $a cw
105 $a ak a 001yy
200 1 $a JTAG測試原理與應用 $f 卷佳壽美著 $g 孫清華編譯
205 $a 初版
210 $a 臺北市 $d 民89[2000] $c 全華
215 0 $a [221]面 $c 圖,表 $d 23公分
300 $a 含參考書目及索引
606 $2 csh $a BSDL (邊界掃描敘述語言) $3 47003
606 $2 csh $a C (電腦程式語言) $3 27279
606 $2 csh $a 電路測試 $3 47002
681 $a 448.6 $b 8746
700 $a 卷 $b 佳壽美 $4 著 $3 46960
702 $a 孫 $b 清華 $4 編譯 $3 47001
801 0 $a cw $b 新生醫校 $c 20000909 $g CCR
801 1 $a cw $b 新生醫校 $c 20000909

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